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□ 열 통증 임계치에 대한 LTE 휴대전화 전자기장 노출의 효과
(The Effect of a Single 30-Min Long Term Evolution Mobile Phone-Like Exposure on Thermal Pain Threshold of Young Healthy Volunteers)
2017.8.27.
출처: IJERPH
연구기관 : National Public Health Institute 등(헝가리)
o 개요
- 이 논문은 ‘18년 8월, IJERPH에 등재되었음
- 건강한 젊은 성인의 열 통증 임계치에 대한 Long Term Evolution (LTE) 휴대전화 EMF의 급성 노출 효과를 조사하였음
- Universal Mobile Telecommunications System(UMTS)을 활용한 이전 연구에서는 휴대전화 RF-EMF에 노출된 참가자들이 반복적인 열 통증에 둔감해진다는 연구 결과를 얻었으며, 본 연구는 이전 연구와 동일한 프로토콜을 사용하였음
- 연구 결과, 통증에 대한 반응은 LTE EMF 노출 자체와는 관련이 없었으며, 실험 결과는 위약 효과 또는 뇌파에 기인한 것으로 파악됨
- RF 변조가 통증 인식에 차별적으로 영향을 미칠 수 있으며, 이는 주제에 대한 추가 연구가 필요하다는 것을 의미함
o 연구 결과
- 개별 블록에서 열 통증 한계점은 sham 대조군이 LTE 실험군에 비해 높게 나타났으며, 다른 비교는 유의한 차이가 없음을 보임
- 변수간의 상호작용 또한 발견되지 않음
o 결론
- 이 연구에서는 이전 UMTS 연구에서 사용한 것과 동일한 프로토콜로 LTE 전자기장이 열 통증 한계치에 미치는 영향을 조사하였음
- 연구 결과, LTE 노출은 30 분의 노출 기간 동안 열 통증 임계 값에 아무런 영향을 미치지 않았으며, 이는 이전의 연구결과와 상충되는 결과를 나타냄
- 이는 LTE 노출로 인한 통증의 변화가 없다는 주관적 설문 결과와 일치하였음
http://www.mdpi.com/1660-4601/15/9/1849/htm
(리포터 : 안형상 연구원, 미래전파공학연구소) |
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